封装选型时的热计算示例 1
在此前的文章中介绍了损耗的发生部位以及通过计算求出相应损耗的方法。从本文开始，将介绍根据求得的损耗进行热计算，并判断在实
2020-09-18 16:02:14
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在此前的文章中介绍了损耗的发生部位以及通过计算求出相应损耗的方法。从本文开始，将介绍根据求得的损耗进行热计算，并判断在实
2020-09-18 16:02:14
上一篇文章介绍了电源IC整体损耗的计算方法，即求出各部分的损耗并将这些损耗相加的方法。本文将在“简单”的前提下，介绍一种利
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