欢迎来到查IC网
关键词
           
 
  • 所谓SiC-MOSFET-SiC-MOSFET的可靠性
    所谓SiC-MOSFET-SiC-MOSFET的可靠性

    本文就SiC-MOSFET的可靠性进行说明。这里使用的仅仅是ROHM的SiC-MOSFET产品相关的信息和数据。另外,包括MOSFET在内的SiC功率元

    2020-09-18 15:49:43
  • ADI:A Look at the New ANSI/ESDA/JEDEC JS-002 CDM Test Standard
    ADI:A Look at the New ANSI/ESDA/JEDEC JS-002 CDM Test Standard

    Charged device model (CDM) ESD is considered today to be the primary real world ESD model for representing ESD charging and rapid discharge and is the best representation of what can occur in automate

    2020-04-26 15:39:16
  • ADI:解决模拟输入IEC系统保护问题
    ADI:解决模拟输入IEC系统保护问题

    与系统模拟输入和输出节点交互作用的外置高压瞬变可能破坏系统中未采用充分保护措施的集成电路(IC)。现代IC的模拟输入和输出引脚通常采用了高压静电放电(ESD)瞬变保护措施。

    2020-04-26 15:38:33
  • ADI:ESD Diode Doubles as Temperature Sensor
    ADI:ESD Diode Doubles as Temperature Sensor

    A look at an alternative method to measure junction temperature using an on-chip output stage protection diode as a temperature sensor.

    2020-04-26 15:18:19
相关搜索
今日排行
本周排行
本月排行
查IC网

服务热线

400-861-9258

客服企业微信